Kristalografik Doku Analizi Laboratuvarı 2

STRESSTECH Manyetik Barkhausen Analiz Sistemi

Özellikler

• Barkhausen Gürültüsü Analizi (BNA),  ferromanyetik bir numuneye manyetik alan uygulandığında oluşan gürültüye benzer bir sinyalin endüktif ölçümüne dayanır
• Ölçüm derinliği: 0.01 - 1.5 mm
 
Kabiliyetler

STRESSTECH Taşınabilir XRD Kalıntı Gerilme Analiz Sistemi

Özellikler

• X ışını tüpü: 30 kV / 6.6 mA / 200-300 W; Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn
• Kolimatör uçları: 1, 2, 3, 4 ve 5 mm
• X-Eğilme açısı: -45° ~ +45°
• X-Osilasyon açısı: 0° ~ +6°
• X-Osilasyon mesafesi: (+/-) 0.003 mm
 
Kabiliyetler

• Kalıntı gerilme ve kalıntı östenit miktarı ölçümleri
• Stress tensörü hesaplama
• sin2psi ve Dölle-Hauk grafikleri
• Cihaz hem laboratuvar hem de saha kullanımı için uygundur.

ZEISS Taramalı Elektron Mikroskobu (MERLIN)

Özellikler

• Çözünürlük: ~0.6 nm (30kV ve FEG filament ile)
• Numune haznesi: 330 mm çap, 270 mm yükseklik
• Analitik çalışma mesafesi: 8.5 mm
• Büyütme aralığı: Polaroid görüntü formatına göre 12x-2.000.000x
• Hızlandırma gerilimi: 0.02 kV - 30 kV
 
Kabiliyetler

• Morfolojik Analiz
• İç yapı analizi (faz, tane boyut vs.)
• Kırılma yüzeyi ve çatlak analizi
• Yüzey element analizi 
• Bölgesel kimyasal element haritalama
• EBSD analizi
• Yüzey kaplama kalınlığı ve karakterizasyonu

ZEISS Taramalı Elektron Mikroskobu (EVO LS15)

Özellikler

• Çözünürlük: ~2 nm (30kV ve LaB6 filament ile)
• Maksimum yüksekliği: 145mm
• Büyütme aralığı: < 5- 1,000,000 x
 
Kabiliyetler

• Morfolojik Analiz
• İç yapı analizi (faz, tane boyut vs.)
• Kırılma yüzeyi ve çatlak analizi
• Yüzey element analizi (1µm’e kadar)
• Bölgesel kimyasal element haritalama
• Düşük basınç altnda, ıslak numune ile çalışabilme imkanı
• Yüzey kaplama kalınlığı ve karakterizasyonu

GE-SEIFERT XRD Kalıntı Gerilme ve Doku Analizi Sistemi

Özellikler

• Mekanik sistem: 4 çember- 7 eksenli gonyometre
• Maksimum yük: 5 kg
• Maksimum numune ölçüleri: 220 mm (genişlik) x 100 mm (derinlik)
 
Kabiliyetler

• Stres tensörü hesaplama
• sin2psi ve Dölle-Hauk grafikleri
• Nicel ve nitel doku analizi