Elemental Analiz Laboratuvarı 2

BRUKER Q4 Spektrometre

Özellikler

• CCD sensörü ile yüksek çözünürlük
• Multi-detector optikler
• Paschen-Runge alma
• ClearSpectrum teknolojisi
• Yüksek derece spektral duyarlılık
 
Kabiliyetler

ZEISS Taramalı Elektron Mikroskobu (EVO LS15)

Özellikler

• Çözünürlük: ~2 nm (30kV ve LaB6 filament ile)
• Maksimum yüksekliği: 145mm
• Büyütme aralığı: < 5- 1,000,000 x
 
Kabiliyetler

• Morfolojik Analiz
• İç yapı analizi (faz, tane boyut vs.)
• Kırılma yüzeyi ve çatlak analizi
• Yüzey element analizi (1µm’e kadar)
• Bölgesel kimyasal element haritalama
• Düşük basınç altnda, ıslak numune ile çalışabilme imkanı
• Yüzey kaplama kalınlığı ve karakterizasyonu

GE-SEIFERT XRD Kalıntı Gerilme ve Doku Analizi Sistemi

Özellikler

• Mekanik sistem: 4 çember- 7 eksenli gonyometre
• Maksimum yük: 5 kg
• Maksimum numune ölçüleri: 220 mm (genişlik) x 100 mm (derinlik)
 
Kabiliyetler

• Stres tensörü hesaplama
• sin2psi ve Dölle-Hauk grafikleri
• Nicel ve nitel doku analizi

Brüker D2 Fazör

Özellikler

• Açısal kaplama alanı: > 5.5°
 
Kabiliyetler

• Faz tanıma ve miktar tespiti
• Kristallik derecesi tayini, faz özellikleri (hücre parametreleri, kristalit boyutu ve kafes gerinimi)
• Kristal yapı analizi